插回损测试仪

广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试仪器。

技术参数:光回波损耗测试:测试范围(dB):0~75

测试波长(nm):1310/1550(±10nm)

(内置高稳定光源)

显示分辨率(dBm/dB):0.1

测试精度(dB):±0.3(0~65dB)

(支持多种光纤接口转换)

光插入损耗测试:波长范围(nm):800~1700

测量范围(dBm):+3~-75

显示分辨率(dBm/dB/xW):0.01

测试依据:GBT 18311.4    GBT 18311.6

测试项目:光插入损耗测试 光回波损耗测试