X射线荧光测厚仪_龙为检测有限公司

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X射线荧光测厚仪

可测量电镀、蒸镀、离子镀等金、银、镍等较薄金属镀层

设备详情

技术参数：测试类型：单镀层、复合镀层

厚度范围：Ag0.25-10um

Ni 0.5-16um

Au 0.1-3um

标准样件误差：5%

测试依据：产品检验文件和设备安全操作规程

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